続・高橋セミナー
第4回 続高橋セミナー：寿命試験データの統計解析
2015年04月10日
要約：
工業製品の通常の環境下での寿命を予測することは，長い時間かかるために過酷な条件下で製品が故障するまでの時間から，通常の使用状況下での製品寿命を推定することになる．加速（過酷）寿命試験では，事前に設定した試験期間になった場合に，対象製品が故障していなくとも試験を終了することになる．通常の使用条件下では，全く故障が起きない場合もあり，製品の寿命を予測する場合には，ある時間まで故障しなかった打ち切りデータを含めた統計解析が求められている．本書は，Excelおよび統計ソフトJMPを用いた最尤法によるワイブル分布のあてはめを導入し，さらに，ワイブル回帰の詳細を解説し，各種の信頼区間のために必須となる最小極値分布についても解説する．また，合成分散の一般式（デルタ法）についても各種の適用事例を示す．
添付ファイル
０）第4回 続高橋セミナー 要旨 takahashi_04_0(2015_04_10).docx
１）寿命の二変量 takahashi_04_1(2015_04_10).pdf
２）寿命試験データの統計解析 本文 takahashi_04_2(2015_04_10).pdf
３）寿命試験データの統計解析 Excel および JMPファイル takahashi_04_3(2015_04_10).zip